300-1988

Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

300-1988 发布历史

300-1988由IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc. 发布于 1988-06-09，并于 2006-06-29 实施。

300-1988的历代版本如下：

• 1964年01月01日 300-1964
• 1969年01月01日 300-1969
• 1979年01月01日 300-1979
• 1982年11月10日 300-1982
• 1985年01月01日 300-1985
• 1988年06月09日 300-1988
• 1996年03月29日 300-1996
• 2005年05月20日 300-2005

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标准号

300-1988

发布日期

1988年06月09日

实施日期

2006年06月29日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

引用标准

35

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