IEEE 300-1982
半导体带电粒子探测器的标准测试程序

STANDARD TEST PROCEDURES FOR SEMICONDUCTOR CHARGED-PARTICLE DETECTORS

被代替

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标准号

IEEE 300-1982

发布

1982年

发布单位

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

替代标准

IEEE 300-1988

当前最新

IEEE 300-1988

 

 

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