ASTM F744M-97(2003)
测量数字集成电路翻转剂量率阈值的标准试验方法[米制]

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]


ASTM F744M-97(2003) 发布历史

ASTM F744M-97(2003)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1997-02-10。

ASTM F744M-97(2003)在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

ASTM F744M-97(2003)的历代版本如下:

  • 2010年05月01日 ASTM F744M-10 测量数字集成电路翻转剂量率阈值的标准试验方法[米制]
  • 2016年05月01日 ASTM F744M-16 用于测量数字集成电路颠簸的剂量阈值的标准测试方法(公制)
  • 1997年 ASTM F744M-1997 数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)
  • 1997年 ASTM F744M-1997(2003) 数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)
  • 2010年 ASTM F744M-2010 数字集成电路扰乱的剂量速率阙值测定的标准试验方法【公制单位】
  • 2016年 ASTM F744M-2016 测量数字集成电路 (米制) 混乱用剂量率阀值的标准试验方法
  • 1997年01月01日 ASTM F744M-97 测量数字集成电路失调剂量率阈值的标准试验方法
  • 1997年02月10日 ASTM F744M-97(2003) 测量数字集成电路翻转剂量率阈值的标准试验方法[米制]

 

 

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标准号
ASTM F744M-97(2003)
发布日期
1997年02月10日
实施日期
废止日期
国际标准分类号
31.200
发布单位
US-ASTM




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