BS ISO 15632:2002
微束分析 带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪的仪器规范

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

2012-08

标准号
BS ISO 15632:2002
发布
2002年
发布单位
SCC
替代标准
BS ISO 15632:2012
当前最新
BS ISO 15632:2012
 
 
适用范围
交叉引用：ISO/IEC 17025 ISO 18115 IEC 60759 ANSI/IEEE 759 ASTM E1508

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