ISO 15632:2002
微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors


 

 

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标准号
ISO 15632:2002
发布
2002年
中文版
GB/T 20726-2006 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 15632:2012
当前最新
ISO 15632:2021
 
 
适用范围
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器利信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪 (EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作原理的半导体探测器EDS。 本标准准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)此类EDS的的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。

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