KS C IEC 60749-4-2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热稳态高加速应力测试（HAST）

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 4: Damp heat, steady state,highly accelerated stress test(HAST)

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标准号: KS C IEC 60749-4-2020
发布: 2020年
发布单位: KR-KS
当前最新: KS C IEC 60749-4-2020

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