KS C IEC 60749-1-2006(2016)
半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 1:General


 

 

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标准号
KS C IEC 60749-1-2006(2016)
发布
2006年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
当前最新
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
 
 

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