KS C IEC 60749-1:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 1：General

被代替

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标准号: KS C IEC 60749-1:2006
发布: 2006年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C IEC 60749-1-2006(2016)
当前最新: KS C IEC 60749-1-2006(2021)

适用范围: 이 규격은 반도체 소자(개별 소자 및 집적 회로)에 적용 가능하며, IEC 60749 시리

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