BH GSO ISO 13084:2016
表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 BH GSO ISO 13084:2016 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
BH GSO ISO 13084:2016
发布单位
GSO
当前最新
BH GSO ISO 13084:2016
 
 

BH GSO ISO 13084:2016相似标准


推荐

一文了解相对强度

静态二次离子质谱法中相对强度范围重复性和稳定性  英国标准学会,关于中相对强度标准  BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性  BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性  BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围重复性和稳定性...

真空计及其应用与发展

学是研究如何使中性样品形成离子,并使这些具有不同质荷比离子在特定电磁场中运动,从而将它们分离科学。它是一门应用性很强技术科学。质谱仪器是建立在分子(原子)电离技术和离子光学理论基础上。处在今天发展水平上质谱仪器,不只是一种分析仪,而且已成为有力研究手段。它被广泛应用于真空科学、表面物理、反应动力学和固体研究,以及同位素分析、原子质量精测、化学分析、有机分析等领域。     ...

二次离子(SIMS)原理特点和应用

飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中,二次离子被提取到无场漂移管,二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子速度与其质量成反比,因此它飞行时间会相应不同,较重离子到达检测器时间会比较轻离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性二次离子,并具有极佳质量分辨率。...

飞行时间二次离子质谱法

此时,再通过调低1次离子照射量,检测保留了表面成分化学结构分子离子和部分碎片离子,就可以获取最表层元素构成和化学结构信息。飞行时间(TOF型)质谱仪由于脉冲后1次离子照射而产生2次离子在一定能量下被加速,根据质量不同以不同速度(轻离子高速,重离子低速)进入质谱仪。达到检测器时间飞行时间)与质量有着函数关系,通过精密测定此飞行时间分布可以获取。 ...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号