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静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
质谱学是研究如何使中性样品形成离子,并使这些具有不同质荷比的离子在特定的电磁场中运动,从而将它们分离的科学。它是一门应用性很强的技术科学。质谱仪器是建立在分子(原子)电离技术和离子光学理论基础上的。处在今天发展水平上的质谱仪器,不只是一种分析谱仪,而且已成为有力的研究手段。它被广泛应用于真空科学、表面物理、反应动力学和固体研究,以及同位素分析、原子质量精测、化学分析、有机分析等领域。 ...
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中,二次离子被提取到无场漂移管,二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比,因此它的飞行时间会相应不同,较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子,并具有极佳质量分辨率。...
此时,再通过调低1次离子的照射量,检测保留了表面成分化学结构的分子离子和部分碎片离子,就可以获取最表层的元素构成和化学结构的信息。飞行时间(TOF型)质谱仪由于脉冲后1次离子的照射而产生的2次离子在一定能量下被加速,根据质量不同以不同速度(轻离子高速,重离子低速)进入质谱仪。达到检测器的时间(飞行时间)与质量有着函数关系,通过精密测定此飞行时间的分布可以获取质谱。 ...
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