ISO 13084:2011
表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer
- 标准号
- ISO 13084:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 13084:2018
- 当前最新
- ISO 13084:2018
- 适用范围
- 本国际标准规定了一种优化用于一般分析目的的飞行时间 SIMS 仪器质量校准精度的方法。 它仅适用于飞行时间仪器，但不限于任何特定的仪器设计。 为可以使用此程序优化的一些仪器参数以及适合校准质量标度以获得最佳质量精度的通用峰类型提供了指导。
ISO 13084:2011相似标准
推荐
一文了解质谱相对强度
静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会，关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
质谱仪的分类及技术应用
4、离子探针：离子探针是用聚焦的离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。成像离子探针适用于许多不同类型的样品分析，包括金属样品、半导体器件及非导体样品等。 ...
真空质谱计及其应用与发展
质谱学是研究如何使中性样品形成离子，并使这些具有不同质荷比的离子在特定的电磁场中运动，从而将它们分离的科学。它是一门应用性很强的技术科学。质谱仪器是建立在分子（原子）电离技术和离子光学理论基础上的。处在今天发展水平上的质谱仪器，不只是一种分析谱仪，而且已成为有力的研究手段。它被广泛应用于真空科学、表面物理、反应动力学和固体研究，以及同位素分析、原子质量精测、化学分析、有机分析等领域。 ...
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
[1] SIMS用一次离子束轰击表面，将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子，然后飞行时间或者磁偏转质谱仪分析离子的荷/质比，便可知道表面的成份；它是一种非常灵敏的表面成份分析手段，对某些元素可达到ppm量级；但由于各种元素的二次离子差额值相差非常大，作定量分析非常困难。 二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。...