ASTM F28-91(1997)
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standard Test Methods for Minority-Carrier Lifetime in Bulk Germanium and Silicon by Measurement of Photoconductivity Decay
- 标准号
- ASTM F28-91(1997)
- 发布
- 1997年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F28-02
- 当前最新
- ASTM F28-02
- 引用标准
- ASTM D1125 ASTM F391 ASTM F42 ASTM F43
- 1.1 这些测试方法涵盖了适用于外源单晶锗或硅块状样品中载流子复合过程的少数载流子寿命的测量。 1.2 这些测试方法基于在光脉冲产生载流子后测量样品电导率的衰减。描述了以下两种测试方法： 1.2.1 测试方法 A——脉冲光方法，适用于硅和发芽。2 1.2.2 测试方法 B——斩波光方法，特定于电阻率为 $1 V 的硅样本·cm.3 1.3 两种测试方法都是非...