BS IEC 63284:2022
半导体器件 氮化镓晶体管感性负载开关可靠性测试方法

Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors


标准号
BS IEC 63284:2022
发布
2022年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS IEC 63284:2022
 
 

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