OVE EN IEC 63284:2021
半导体器件-氮化镓晶体管的感性负载开关可靠性测试方法（IEC 47/2681/CDV）（英文版）

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors (IEC 47/2681/CDV) (english version)


 

 

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标准号
OVE EN IEC 63284:2021
发布
2021年
发布单位
AT-OVE/ON
当前最新
OVE EN IEC 63284:2021
 
 

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