IEEE Std 300-1988

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEEE Std 300-1988 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

IEEE Std 300-1988

发布

1988年

发布单位

美国电气电子工程师学会

当前最新

IEEE Std 300-1988

 

 

适用范围

This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection and high-resolution spectroscopy of charged particles. The measurement techniques described were selected to be readily available to all manufacturers and users of charged-particle detectors. The object of this standard is to establish standard test procedures for semiconductor charged-particle detectors. Th...

IEEE Std 300-1988相似标准