IEEE Std 300-1988
半导体带电粒子探测器的 IEEE 标准测试程序

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

被代替

半导体带电粒子探测器的 IEEE 标准测试程序 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 IEEE Std 300-1988 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意：点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号: IEEE Std 300-1988
发布: 1988年
发布单位: 美国电气电子工程师学会
替代标准: IEEE Std 300-1988(R2006)
当前最新: IEEE Std 300-1988(R2006)

This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection and high-resolution spectroscopy of charged particles. The measurement techniques describ...

IEEE Std 300-1988相似标准

IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器的标准测试程序 IEEE 300-1982 半导体带电粒子探测器的标准测试程序 IEC 60333:1993 核仪器半导体带电粒子探测器试验程序 ANSI/IEEE 300:1988 半导体带电粒子检测器的试验程序 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法

IEEE Std 300-1988
半导体带电粒子探测器的 IEEE 标准测试程序

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

被代替

IEEE Std 300-1988相似标准

推荐

西安光机所两位高层次人才被聘为“陕西省特聘专家”

IEEE 物联网相关的标准

IEEE Std 300-1988半导体带电粒子探测器的 IEEE 标准测试程序

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

被代替

IEEE Std 300-1988相似标准

推荐

西安光机所两位高层次人才被聘为“陕西省特聘专家”

IEEE 物联网相关的标准

IEEE Std 300-1988
半导体带电粒子探测器的 IEEE 标准测试程序