ISO 15472:2001
表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 ISO 15472:2001 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
ISO 15472:2001
发布
2001年
中文版
GB/T 22571-2008 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 15472:2010
当前最新
ISO 15472:2010
 
 
适用范围
本国际标准规定了用于一般分析目的,使用非单色铝或镁 X 射线或单色铝 X 射线校准 X 射线光电子能谱仪结合能标度的方法。 它仅适用于配备离子枪进行溅射清洁的仪器。 本国际标准进一步规定了建立校准计划的方法,以测试一个中间能量下的结合能标度线性度,以确认一个低和一个高结合能值下的标度校准的不确定度,以校正小该标度的漂移,并定义置信度为 95% 的结合能标度校准的扩展不确定度。 这种不确定性包括实验室间研究中观察到的行为的贡献,但不涵盖所有可能发生的缺陷。 本国际标准不适用于具有与能量显着非线性的结合能标度误差的仪器、在延迟比小于 10 的恒定延迟比模式下操作的仪器、以及光谱仪分辨率低于 1.5 的仪器。 eV,或要求容差限制为 ±0.03 eV 或更小的仪器。 本国际标准不提供全面的校准检查,该检查将确认能量标尺上每个可寻址点测量的能量,并且必须按照制造商推荐的程序进行。

ISO 15472:2001相似标准


推荐

"第二届表面分析技术应用论坛--X射线光电子能使用及分析规范"网络主题研讨会顺利召开

从而要求对XPS的结合能标尺进行校准,不确定度需达到0.2eV或更小。谢老师的报告介绍了利用铜、银和金金属标准物质校准结合能标尺的方法。样品的正确处理和制备对于分析尤其是表面分析是极为重要的,俄歇电子能(AES)、X射线光电子能(XPS)、二次离子质(SIMS)等表面分析技术通常对几纳米厚度的表面敏感,不正确的样品处理会导致表面组成改变和数据不可信,严重影响测试结果。...

“第二届表面分析技术应用论坛 ——X射线光电子能使用及分析规范研讨会”通知

【会议时间】2018年3月15日全天【会议地点】清华大学理科楼D203【会议日程】09:30-10:40X射线光电子能谱分析刘芬(中科院化学所)10:40-11:50XPS定量分析中的灵敏度因子吴正龙(北京师范大学)13:30-14:40X射线电子能能量标尺校准谢景林(北京大学)14:40-15:50表面化学分析样品前处理姚文清(清华大学)  仪器信息网链接:http://www.instrument.com.cn...

带你全方位了解X射线光电子能

利用XPS对表面元素做出一次性的定性和定量分析,并通过离子束溅射获得元素深度的化学成分分布信息,利用高空间分辨率进行微区选点分析、线扫描分析以及元素面分布分析。xps基本原理当单色的X射线照射样品,具有一定能量的入射光子同样品原子相互作用:光致电离产生光电子;电子从产生之处迁移到表面;电子克服逸出功而发射。用能量分析器分析光电子的动能,得到的就是X射线光电子能。...

​能EDS

可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能因对化学分析最有用,因此被称为化学分析用电子能(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。      1,元素的定性分析。可以根据能图中出现的特征线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。   2,元素的定量分析。...


ISO 15472:2001 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 15472:2001 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号