IEC 60749-28:2022
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
- 标准号
- IEC 60749-28:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-28:2022