GSO IEC 63284:2024
半导体器件 氮化镓晶体管的感性负载开关可靠性测试方法

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors


 

 

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标准号
GSO IEC 63284:2024
发布
2024年
发布单位
GSO
当前最新
GSO IEC 63284:2024
 
 
适用范围
IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress

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