ASTM F76-08(2016)
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

 

 

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标准号
ASTM F76-08(2016)
发布日期
2016年05月01日
实施日期
废止日期
无
国际标准分类号
29.045
发布单位
美国材料与试验协会

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