BS EN IEC 60749-5:2024
半导体器件 机械和气候试验方法稳态温度湿度偏置寿命试验
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test
- 标准号
- BS EN IEC 60749-5:2024
- 发布
- 2024年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 60749-5:2024
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