使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy, STM)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子的原子力显微镜样品制备,以及纳米粒子尺寸的原子力显微镜法测量。...
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