原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy, STM)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子的原子力显微镜样品制备,以及纳米粒子尺寸的原子力显微镜法测量。...
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
原子力显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...
现在,美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究人员已经证明,对一种标准的离子束技术进行微调,可将结构的深度控制在单个硅原子的直径范围内。利用这种新近证明了的精确度,NIST的研究团队使用这种标准的加工技术制造出能够精确测量液体中纳米颗粒大小的装置。纳米流体装置具有大规模生产的潜力,有望成为测定纳米粒子大小的一种新的实验室标准。这种测量可以加速纳米粒子在工业应用中的质量控制。...
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