GSO IEC 62373:2014
金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 的温度偏置稳定性测试

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

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标准号: GSO IEC 62373:2014
发布: 2014年
发布单位: GSO
当前最新: GSO IEC 62373:2014

适用范围: This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

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