GB/T 20724-2021
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
GBT20724-2021, GB20724-2021
GB/T 20724-2021 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 20724-2021
- 别名
- GBT20724-2021
GB20724-2021 - 发布
- 2021年
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- 当前最新
- GB/T 20724-2021
- 引用标准
- GB/T 18907-2013 GB/T 27418-2017 ISO 15932:2013
- 被代替标准
- GB/T 20724-2006
- 本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。 本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。 注:由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
GB/T 20724-2021相似标准
推荐
【材料课堂】一文了解透射电镜（TEM）知识重点（动图演示）
图505透射电镜（TEM）应用场景①利用质厚村度（又称吸收衬度）像，对样品进行形貌观察；②利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群；③利用高分辨电子显微方法可直接看到晶体中原子或原子团在特定方向上结构投影的这一特点，确定晶体结构。...
【材料课题】一文看懂透射电镜（TEM）！
8参考书籍《电子衍射图在晶体学中的应用》 郭可信，叶恒强，吴玉琨著；《电子衍射分析方法》 黄孝瑛著；《透射电子显微学进展》 叶恒强，王元明主编；《高空间分辨分析电子显微学》 朱静，叶恒强，王仁卉等编著；《材料评价的分析电子显微方法》 （日）进藤大辅，及川哲夫合著，刘安生译。来源：中国科学院科普文章《透射电子显微镜基本知识介绍》推荐阅读：欢迎微信后台回复“应聘编辑”加入我们实用！...
【干货】透射电子显微镜的基础知识汇总
8参考书籍《电子衍射图在晶体学中的应用》 郭可信，叶恒强，吴玉琨著；《电子衍射分析方法》 黄孝瑛著；《透射电子显微学进展》 叶恒强，王元明主编；《高空间分辨分析电子显微学》 朱静，叶恒强，王仁卉等编著；《材料评价的分析电子显微方法》 （日）进藤大辅，及川哲夫合著，刘安生译。...
电子衍射的应用
在材料科学领域内，选区电子衍射技术主要用于：①物相鉴定；②取向关系测定；③脱溶时的沉淀相惯析面以及滑移面等的测定；④晶体缺陷分析；⑤有序无序转变、spinodal分解、磁畴的研究等。会聚束电子衍射（CBD）如果利用透射电子显微镜的聚光系统产生一个束斑很小的会聚电子束照射样品，形成发散的透射束和衍射束（图3）。...