NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002
半导体装置 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure


NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002 发布历史

NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002由法国标准化协会 FR-AFNOR 发布于 2002-12-01,并于 2002-12-01 实施。

NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002的历代版本如下:

 

 

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标准号
NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002
发布
2002年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF C96-022-2*NF EN 60749-2:2002
 
 

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