IEC 60749-30:2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第30部分:在可靠性测试之前对非密封性表面贴装器件进行预处理
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
- 标准号
- IEC 60749-30:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-30:2020