DB44/T 1215-2013
利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性
Characterization of Single-Walled Carbon Nanotubes Using Scanning Electron Microscopy and Energy Spectroscopy
DB44/T 1215-2013 中，可能用到以下仪器设备
DB44/T 1215-2013相似标准
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扫描电镜技术及其在碳材料表征中的应用
在样品的处理过程中，有时需要提供包括形貌、成分、晶体结构或位向在内的丰富资料，以便能够更全面、客观地进行判断分析。为此，相继出现了扫描电子显微镜—电子探针多种分析功能的组合型仪器。扫描电子显微镜如配有X射线能谱和X射线波谱成分分析等电子探针附件，可分析样品微区的化学成分等信息材料。内部的夹杂物等，由于它们的体积细小，因此，无法采用常规的化学方法进行定位鉴定，SEM却可以提供重要的线索和数据。...
DB44/T 1215-2013 中可能用到的仪器设备
电镜用X射线能谱仪EDS
原位样品杆/台
X射线能谱仪(EDS)
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
透射电镜TEM
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
扫描电镜SEM
显微图像分析系统
FIB-SEM双束聚焦扫描电镜
超分辨率显微镜
X射线显微镜
打标/雕刻/喷码/喷墨/刻印机
拉曼光谱仪
纳米压痕仪、划痕仪
固体(粉末)表面分析仪
其它物性测试仪器
其他试验机
均质器 /匀浆机/乳化机
催化剂评价
电子束刻蚀
化学合成仪
纳米药物制备及递送
蛋白质纯化系统
晶圆处理和测试
聚烯烃表征分析
其他包装业专用
其它行业专用
粒子图像测速仪(PIV)
信号采集处理
原子层沉积(ALD)
化学气相沉积（CVD）
半导体专用检测仪器设备