IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)
IEC 62526 版 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005)：半导体设计环境标准测试接口语言 (STIL) 扩展标准

IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments


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标准号
IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)
发布
2007年
发布单位
美国电气电子工程师学会
 
 
Standard Test Interface Language (STIL) provides an interface between digital test generation tools and test equipment. Extensions to the test interface language (contained in this...

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