GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors

GB/T 5201-1994 中，可能用到以下仪器设备

 

软X射线分光谱仪

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大面积电制冷能谱仪

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多功能粉末X射线衍射仪

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手动单道移液器

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XtaLAB P200 小分子单晶X射线分析装置

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岛津MAXima_X XRD-7000X射线衍射仪

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岛津X射线衍射仪XRD-6000

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Xcalibur E X射线单晶衍射仪

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XRD-6100型X射线衍射仪

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x射线粉末衍射仪 D/MAX 2000

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Gatan 精密刻蚀镀膜系统PECS II 685

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GB/T 5201-1994

标准号
GB/T 5201-1994
发布日期
1994年12月22日
实施日期
1995年10月01日
废止日期
2012-11-01
中国标准分类号
F80
国际标准分类号
17.240
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 5201-2012
适用范围
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。

GB/T 5201-1994系列标准

GB/T 5204-2021 核电厂安全系统定期试验与监测 GB/T 5203-2011 核反应堆安全逻辑装置特性和检验方法 GB/T 5202-2008 辐射防护仪器α、β和α／β（β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪

GB/T 5201-1994 中可能用到的仪器设备

X射线衍射仪(XRD) 电镜附件及外设 移液器Liquid Handling

谁引用了GB/T 5201-1994 更多引用

GB/T 13178-2008 金硅面垒型探测器


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