GB/T 5201-2012
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
GBT5201-2012, GB5201-2012
- 标准号
- GB/T 5201-2012
- 别名
- GBT5201-2012, GB5201-2012
- 发布
- 2012年
- 采用标准
- IEC 60333:1993 NEQ
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 5201-2012
- 引用标准
- GB/T 10263-2006 GB/T 13178-2008 GB/T 4960.6-2008
- 被代替标准
- GB/T 5201-1994
- 适用范围
- 本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。 金耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
GB/T 5201-2012相似标准
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