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该软件非常适合基于纳米光刻技术的新型器件表面结构开发，也非常适合研究先进纳米电子学不断减小的特征尺寸和线间距。图1.通过局部表面氧化的偏压辅助AFM纳米光刻的示意图。在针尖和样品之间施加偏压后，通过氧化在表面上形成图案。材料和方法 用裸硅片和硅片上的PZT薄膜分别演示了通过氧化和铁电畴切换实现的纳米图案化。裸硅片的均方根粗糙度（Rq）大于1 nm，因此可以识别氧化层和衬底之间的高度对比度。...
布鲁克原子力显微镜和白光干涉仪作为精密的微纳测试和量测设备，在诸如材料形貌、纳米电学性质，器件关键尺寸量测，产品无损检测等方面提供重要帮助。本次讲座，我们将为大家介绍布鲁克的原子力显微镜和白光干涉仪测量技术，并结合多个具体测试案例，展示这些测量技术在显示领域的重要应用。讲座三：纳米压痕用于先进金属研究金属材料在人类历史上的应用历史悠久，与人类社会的发展紧密相连，互相促进。...
比如Ito等人最初用STM在低温下(低于275K)观察到了HOPG基底上聚苯胺和B-环糊精形成的棒状包络物(InclusionComplex)的绝缘分子导线,后来又用AFM在室温下观察到了云母基底上聚苯胺和由A-环糊精合成的分子纳米管之间形成的棒状包络物绝缘分子导线。（3）导电聚合物表面的电学性质由于具有非常小的针尖尺寸,扫描探针显微镜也是一种研究导电聚合物局部电学性质的理想工具。...
图文简介图1不同结构器件模型与光学损失分析图2 织构界面制备工艺流程及对应SEM截面图图3 平面和织构结构器件SEM图对比和光学表征图4 器件输出特性和EQE表征图5 PTAA织构形貌控制SEM图以及AFM切线表征图6 不同织构器件性能表征图7 器件性能统计小结该研究从提出了光学失配是聚合物基倒置钙钛矿太阳能电池效率相对较低的根源，并提出内部织构界面协调光学匹配。...
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