BS ISO 17470:2004
微束分析电子探针微分析波长色散X射线光谱定性点分析指南

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

被代替

2014-01

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标准号: BS ISO 17470:2004
发布: 2004年
发布单位: SCC
替代标准: BS ISO 17470:2014
当前最新: BS ISO 17470:2014

适用范围: 交叉引用：ISO 14594:2003

BS ISO 17470:2004相似标准

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电子探针分析的基本介绍

以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X射线。...

电子探针X射线显微分析仪简介

　　电子探针X射线显微分析仪，简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X射线。不同的元素有不同的X射线特征波长和能量。...

电子探针的工作原理及构造

其方法是，先利用能发出荧光的材料（如ZrO2）置于电子束轰击下，这是就能观察到电子束轰击点的位置，通过样品移动装置把它调到光学显微镜目镜十字线交叉点上，这样就能保证电子束正好轰击在分析点上，同时也保证了分析点处于X射线分光谱仪的正确位置上。在电子探针上大多使用的光学显微镜是同轴反射式物镜，其优点是光学观察和X射线分析可同时进行。放大倍数为100-500倍。...

xrf和epma两种成分分析方法有何区别

2.X射线谱仪　　电子束轰击样品表面将产生特征X射线，不同的元素有不同的X射线特征波长和能量。通过鉴别其特征波长或特征能量就可以确定所分析的元素。利用特征波长来确定元素的仪器叫做波长色散谱仪（波谱仪WDS），利用特征能量的就称为能量色散谱仪（能谱仪EDS）。电子探针的分析方法1.点分析：用于测定样品上某个指定点的化学成分。　　2.线分析：用于测定某种元素沿给定直线分布的情况。　　...

BS ISO 17470:2004微束分析 电子探针微分析 波长色散X射线光谱定性点分析指南