KS C 6049-2020
半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits

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KS C 6049-2020 发布历史

KS C 6049-2020由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 20201120，并于 20201120 实施。

KS C 6049-2020在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

KS C 6049-2020 半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 KS C 6049-2020 。

KS C 6049-2020的历代版本如下：

2020年 KS C 6049-2020 半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法
1980年 KS C 6049-1980 半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法

标准号: KS C 6049-2020
发布: 2020年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS C 6049-2020

KS C 6049-2020相似标准

KS C 6049-1980(2020) 环境试验方法和耐久性试验方法半导体集成电路 KS C 6049-1980 半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法 GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分;总则 GB/T 18500.1-2001 半导体器件集成电路第4部分;接口集成电路第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 GB/T 18500.2-2001 半导体器件集成电路第4部分;接口集成电路第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范

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