KS C 6049-2020
半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits

半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS C 6049-2020 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: KS C 6049-2020
发布: 2020年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS C 6049-2020

KS C 6049-2020相似标准

KS C 6049-1980(2020) 环境试验方法和耐久性试验方法半导体集成电路 KS C 6049-1980 半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法 GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分;总则 GB/T 18500.1-2001 半导体器件集成电路第4部分;接口集成电路第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 GB/T 18500.2-2001 半导体器件集成电路第4部分;接口集成电路第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范

推荐

芯片产业链上市公司盘点之封装测试与封测设备篇

封装、测试晶方科技603005.SH公司协助客户实施可靠，小型化，高性能和高性价比的半导体CMOS图像传感器封装的大批量制造，提供3DIC和TSV晶圆级芯片尺寸封装和测试服务，主要产品有影像传感器，生物身份识别，环境光感应，医疗电子和汽车传感器等。封装、测试太极实业600667.SH公司目前主营业务包括半导体业务、工程技术服务业务、光伏电站投资运营业务和材料业务。...

引言功率半导体器件是新能源、轨道交通、电动汽车、工业应用和家用电器等应用的核心部件。特别是随着新能源电动汽车的高速发展，功率半导体器件的市场更是呈爆发式的增长。区别于消费电子市场，车规级功率半导体器件由于高工作结温，高功率密度，高开关频率的特性，和更加恶劣的使用环境，使得器件的可靠性显得尤为重要。静态HTXB作为功率器件耐久性试验中的一种，对功率模块潜在缺陷剔除、验证模块结构的可靠度至关重要。...

天津大学—飞思卡尔公司IC测试联合实验室揭牌

多年来，飞思卡尔半导体（天津）公司十分关注天津市集成电路技术的进步和人才培养，多次以各种形式资助天津高校人才培养和师资队伍建设。天津大学在集成电路（微电子）领域具有技术和人才优势，在集成电路设计、测试、工艺与器件研发等方面取得了诸多优秀成果，是教育部批准的天津市首个国家集成电路人才培养基地。...

【通知】2024第21届中国国际半导体博览会9月北京召开

展览规划展区一：产业链展区内设半导体材料和电子元器件、设计、设备、制造、封测五个分区，全面展示半导体产业链上下游创新产品、前沿技术设备和企业综合实力形象，汇聚全球资源，展示全球集成电路体系的分工合作，促进产业链供应链资源要素的聚集、聚力、创新和交流合作，维护全球集成电路产业链供应链稳定性、创新性。...

KS C 6049-2020半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法