KS C IEC 60749-16-2006(2016)
半导体器件机械和气候试验方法第16部分:粒子碰撞噪声检测（PIND）
Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 16：Particle impact noise detection(PIND)
KS C IEC 60749-16-2006(2016) 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- KS C IEC 60749-16-2006(2016)
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS C IEC 60749-16-2006(2021)
- 当前最新
- KS C IEC 60749-16-2006(2021)
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