ISO 8289-1:2020
搪瓷和搪瓷.检测和定位缺陷的低压试验.第1部分:非异型表面的拭子试验
Vitreous and porcelain enamels — Low-voltage test for detecting and locating defects — Part 1: Swab test for non-profiled surfaces
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- 标准号
- ISO 8289-1:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 8289-1:2020
- 本文件规定了两种低电压测试，用于检测和定位搪瓷涂层中延伸至基体金属的缺陷。 方法A（电气）适用于快速检测并确定缺陷的大致位置。 方法B（光学）基于颜色效果，适用于更精确地检测缺陷及其确切位置。 这两种方法通常应用于平坦表面。 对于更复杂的形状，例如起伏和/或波纹表面，ISO 8289-2 适用。 注 1：选择正确的测试方法对于区分方法 B 检测到的电导率增加...
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