ISO 8289-1:2020由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2020-02-10。
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本文件规定了两种低电压测试,用于检测和定位搪瓷涂层中延伸至基体金属的缺陷。 方法A(电气)适用于快速检测并确定缺陷的大致位置。 方法B(光学)基于颜色效果,适用于更精确地检测缺陷及其确切位置。 这两种方法通常应用于平坦表面。 对于更复杂的形状,例如起伏和/或波纹表面,ISO 8289-2 适用。 注 1:选择正确的测试方法对于区分方法 B 检测到的电导率增加的区域与延伸到基体金属的实际孔隙至关重要,这两种方法都可以检测到。 注2:低电压试验是一种非破坏性检测缺陷的方法,因此与ISO 2746中规定的高电压试验完全不同。 高电压和低电压试验的结果不具有可比性并且会有所不同。
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