ISO 8289-1:2020
搪瓷和搪瓷.检测和定位缺陷的低压试验.第1部分:非异型表面的拭子试验
Vitreous and porcelain enamels — Low-voltage test for detecting and locating defects — Part 1: Swab test for non-profiled surfaces
- 标准号
- ISO 8289-1:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 8289-1:2020
- 适用范围
- 本文件规定了两种低电压测试，用于检测和定位搪瓷涂层中延伸至基体金属的缺陷。 方法A（电气）适用于快速检测并确定缺陷的大致位置。 方法B（光学）基于颜色效果，适用于更精确地检测缺陷及其确切位置。 这两种方法通常应用于平坦表面。 对于更复杂的形状，例如起伏和/或波纹表面，ISO 8289-2 适用。 注 1：选择正确的测试方法对于区分方法 B 检测到的电导率增加的区域与延伸到基体金属的实际孔隙至关重要，这两种方法都可以检测到。 注2：低电压试验是一种非破坏性检测缺陷的方法，因此与ISO 2746中规定的高电压试验完全不同。 高电压和低电压试验的结果不具有可比性并且会有所不同。