DIN 50452-1-1995
半导体工艺用材料的检验.液体中粒子分析的试验方法.第1部分:粒子的显微镜测定

Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:DIN 50452-1-1995 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

DIN 50452-1-1995



标准号
DIN 50452-1-1995
发布日期
1995年11月
实施日期
废止日期
中国标准分类号
H82
国际标准分类号
29.045
发布单位
DE-DIN
被代替标准
DIN 50452-1-1988
适用范围
This method cover the determination of the concentration of particulate matter contamination from liquids isolated on a membrane filter by microscopic counting. The scope is limited to sizing particles of 5 ?and more.

DIN 50452-1-1995系列标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号