DIN IEC 60747-11-1992
半导体器件.第11部分:半导体器件分规范

Semiconductor devices; sectional specification for semiconductor devices; identical with IEC 60747-11:1985

DIN IEC 60747-11-1992 发布历史

The standard contains the sectional specification for discrete semiconductor devices within the IEC-quality assessment system for electronic devices.

DIN IEC 60747-11-1992由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 1992-04。

DIN IEC 60747-11-1992 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DIN IEC 60747-11-1992的历代版本如下：

• 1992年04月 DIN IEC 60747-11-1992 半导体器件.第11部分:半导体器件分规范

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标准号

DIN IEC 60747-11-1992

发布日期

1992年04月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DE-DIN

被代替标准

DIN IEC 47(CO)895-1983

适用范围

The standard contains the sectional specification for discrete semiconductor devices within the IEC-quality assessment system for electronic devices.

DIN IEC 60747-11-1992系列标准

DIN IEC 60747-11-1992 中可能用到的仪器设备