GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
说明：
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- 标准号
- GB/T 17473.1-1998
- 发布日期
- 1998年08月19日
- 实施日期
- 1999年03月01日
- 废止日期
- 2008-09-01
- 中国标准分类号
- H15
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 17473.1-2008
- 适用范围
- 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。