GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
GB/T 17473.1-1998 发布历史
本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。
GB/T 17473.1-1998由国家质检总局 CN-GB 发布于 1998-08-19，并于 1999-03-01 实施，于 2008-09-01 废止。
GB/T 17473.1-1998 在中国标准分类中归属于: H15 贵金属及其合金分析方法。
GB/T 17473.1-1998的历代版本如下：
- 1998年08月19日 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
- 2008年03月31日 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 于 2008-03-31 变更为 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定。
- 标准号
- GB/T 17473.1-1998
- 发布日期
- 1998年08月19日
- 实施日期
- 1999年03月01日
- 废止日期
- 2008-09-01
- 中国标准分类号
- H15
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 17473.1-2008
- 适用范围
- 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。