GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content


GB/T 17473.1-1998



标准号
GB/T 17473.1-1998
发布日期
1998年08月19日
实施日期
1999年03月01日
废止日期
2008-09-01
中国标准分类号
H15
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 17473.1-2008
适用范围
本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。

GB/T 17473.1-1998系列标准


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