GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance

GBT17473.3-1998, GB17473.3-1998

2008-09

GB/T 17473.3-1998 中,可能用到以下仪器

 

赛默飞 厚度直接测量仪

赛默飞 厚度直接测量仪

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

F50 光学膜厚测量仪

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优尼康科技有限公司

 

 Thermo Scientific RM312 多功能测量仪

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赛默飞智能制作与过程分析

 

反射式膜厚测量仪FE-3000

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北京先锋泰坦科技有限公司

 

蛋壳厚度测量仪 ESTG-01

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北京布拉德科技发展有限公司

 

膜厚测量仪FE-300

膜厚测量仪FE-300

北京先锋泰坦科技有限公司

 

膜厚测量仪FE-3

膜厚测量仪FE-3

北京先锋泰坦科技有限公司

 

GB/T 17473.3-1998

标准号
GB/T 17473.3-1998
别名
GBT17473.3-1998
GB17473.3-1998
发布
1998年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 17473.3-2008
当前最新
GB/T 17473.3-2008
 
 
本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用。

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GB/T 17473.3-1998系列标准


GB/T 17473.3-1998 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 17473.3-1998 更多引用





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