GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
GBT17473.3-1998, GB17473.3-1998
GB/T 17473.3-1998 发布历史
GB/T 17473.3-1998由国家质检总局 CN-GB 发布于 1998-08-19，并于 1999-03-01 实施，于 2008-09-01 废止。
GB/T 17473.3-1998 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040.01 金属材料试验综合。
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 17473.3-2008 。
GB/T 17473.3-1998的历代版本如下：
- 2008年 GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.方阻测定
- 1998年 GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用。
- 标准号
- GB/T 17473.3-1998
- 别名
- GBT17473.3-1998
GB17473.3-1998 - 发布
- 1998年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 17473.3-2008
- 当前最新
- GB/T 17473.3-2008
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