GB/T 17723-1999
黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
GBT17723-1999, GB17723-1999
2009-05
哪些标准引用了GB/T 17723-1999
找不到引用GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法 的标准
- 标准号
- GB/T 17723-1999
- 别名
- GBT17723-1999
GB17723-1999 - 发布
- 1999年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 17362-2008
- 当前最新
- GB/T 17362-2008
- 本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量（不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量）。
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