本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。
GB/T 17723-1999由国家质检总局 CN-GB 发布于 1999-04-11,并于 1999-12-01 实施,于 2009-05-01 废止。
GB/T 17723-1999 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器,在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法 于 变更为 GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法。
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