GB/T 17723-1999
黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
GBT17723-1999, GB17723-1999
2009-05
GB/T 17723-1999 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GB/T 17723-1999
- 别名
- GBT17723-1999
GB17723-1999 - 发布
- 1999年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 17362-2008
- 当前最新
- GB/T 17362-2008
- 本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量（不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量）。
GB/T 17723-1999相似标准
推荐
飞纳电镜助力华正 CNAS 实验室
01电镜能谱测试仪（SEM-EDS）外观02测试相关标准GB/T 16594 微米级长度的扫描电镜测量方法GB/T 12334 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则GB/T 14593 山羊绒、绵羊毛及其混合纤维定量分析方法扫描电镜法GB/T 17723 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法GB/T 17632 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法03测试原理电子枪产生的高能电子束射到样品的某个部位时...
岛津仪器如何鉴定你的珠宝首饰？
X射线荧光光谱法由于非破坏分析的特点，被广泛应用于贵金属成分的分析，是贵金属成分检测中最常见的非破坏分析方式。在EDX-7200上建立黄金分析条件，使用黄金标样校准Au、Ag、Cu、Ni、Zn等元素的校准曲线。...
X射线镀层膜厚测试仪分析特性
X射线镀层膜厚测试仪Ux-720,该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0,5 ‰。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。...
经济衰退期间的黄金投资——发现隐藏的价值
日立的XRF贵金属分析仪可轻松快速地测定金（Au）、银（Ag）、铂（Pt）和钯（Pd）的含量，还可验证稀有贵金属，如锇（Os）。除了确定精确成分外，该分析仪还可测量镀层厚度，如铜合金上的金镀层和金合金上的铑镀层。XRF光谱仪可测量较小的区域，能提供较高的精度，使得检查每件产品的成分、确切克拉重量、镀层和完整性变得极为简单。...