ISO/TS 13762:2001
粒度分析 小角度X射线溅射法
Particle size analysis - Small angle X-ray scattering method
ISO/TS 13762:2001 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ISO/TS 13762:2001
- 发布
- 2001年
- 中文版
- GB/T 13221-2004 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO/TS 13762:2001
- 本技术规范规定了用小角X射线散射技术测定超细粉体粒度分布的方法。它适用于1 nm至300 nm的粒径。在数据分析中，假设颗粒是各向同性的且呈球形。本技术规范中描述的方法也适用于颗粒悬浮液。本技术规范不适用于： a) 含有形态远离球形颗粒的粉末，除非有特殊协议； b) 由多孔颗粒组成的粉末； c) 粉末混合物。
ISO/TS 13762:2001相似标准
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