JIS H 0603:1978
用光电导衰减法测定锗中少数载流子寿命

Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method


JIS H 0603:1978 中,可能用到以下仪器

 

卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列

卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列

北京卓立汉光仪器有限公司

 

标准号
JIS H 0603:1978
发布
1978年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS H 0603:1978
 
 
この規格は,ゲルマニウム単結晶中の少数キャリアのライフタィム(以下,ライフタイムという。)を光導電減衰法により測定する方法について規定したもので,測定しようとする単结晶は均質な組成をもち,そのライフタイムの値は,5~1000μsの範囲のものとする。

JIS H 0603:1978相似标准


推荐


JIS H 0603:1978 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号